El objetivo es dar a conocer las características superficiales del Poliéter Éter Cetona observadas por Microscopía Electrónica de Barrido. Este trabajo corresponde a un Proyecto de Investigación de Beca categoría “A”, que fue acreditado en Febrero/ 2016 por la Secretaría de Ciencia y Técnica de la Universidad Nacional de La Plata. El Diseño Metodológico utilizado fue descriptivo y experimental. La población estuvo representada por 5 # (cinco) implantes (n°5) de PEEK, del mismo lote. Los mismos fueron observados por MEB, con un microscopio modelo Quanta 200, y sistema de bajo vacío. Se registraron las diferentes características físicas (crestas y valles) de la superficie de los implantes. Los datos cuantitativos obtenidos fueron analizados por la técnica de varianza y como medida se utilizó el micrómetro (μm). Resultados: las medidas correspondientes a las crestas y los valles fueron muy homogéneos, correspondiendo a la Media de las crestas 500 μm y a la profundidad de los valles 700 μm. La superficie registra variadas rugosidades. Conclusiones: mediante los datos obtenidos podemos concluir que el Peek podría ser un material indicado para la confección de implantes dentarios.