De lo micro a lo nano: caracterización de superficies nanoestructuradas de dióxido de titanio

Abstract

Con el objetivo de realizar una caracterización detallada de superficies de Ti recubiertas con TiO₂ nanoestructurado generadas a distintos voltajes se utilizaron diferentes técnicas microscópicas: Microscopía Óptica (MO), Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) y Microscopía Electrónica de Barrido con Espectroscopía de Dispersión de Energía de rayos X {SEM-EDS) con análisis de electrones secundarios {SE) y retrodispersados (BSE). Los resultados muestran que el análisis microscópico de las superficies por distintas técnicas complementarias permite realizar la caracterización del sustrato en diversos aspectos, tales como: topografía, rugosidad, composición superficial, etc, lo que no podría resolverse utilizando las técnicas en forma individual.