The scope of the present work is focused in the use of Belief Bayesian Nets (BBN) in order to model complex electronic system failures with hardware and built-in software. The theory of Bayesian networks can be thought as a fusion of influence diagrams and Bayes Theorem. The present analysis emphasizes their use in replacement of the conventional Fault Tree Analysis (FTA). A later study of software necessary to implement their application completes the proposed objective.
Notas
Sección: Diseño de hardware FPGA
Información general
Fecha de exposición:septiembre 2011
Fecha de publicación:2011
Idioma del documento:Español
Evento:II Congreso de Microelectrónica Aplicada (μEA 2011) (La Plata, 7 al 9 de septiembre de 2011)
Institución de origen:Centro de Técnicas Analógico-Digitales
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