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Medición y análisis estadístico para la caracterización de RF-MEMS

Pertenece al libro: Libro de Memorias: II Congreso de Microelectrónica Aplicada 2011
Tipo de documento: Objeto de conferencia

Resumen

En este trabajo muestra la metodología empleada en la medición y caracterización de micro llaves MEMS para microondas, desarrollada en el laboratorio de caracterización de microdispositivos de la UNSAM.

Información general

Fecha de exposición: septiembre 2011
Fecha de publicación: 2011
Idioma del documento: Español
Evento: II Congreso de Microelectrónica Aplicada (μEA 2011) (La Plata, 7 al 9 de septiembre de 2011)
Institución de origen: Centro de Técnicas Analógico-Digitales
ISBN: 978-950-34-0749-3
Páginas: 247-248
Palabras claves: RF-MEMS ; VNA ; calibración Solt ; Probe station ; MicroLab
Materias: Ingeniería

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Creado el: 2 de agosto de 2021
Disponible en SEDICI desde: 2 de agosto de 2021
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