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Medición y análisis estadístico para la caracterización de RF-MEMS

Belongs to book: Libro de Memorias: II Congreso de Microelectrónica Aplicada 2011
Document type: Objeto de conferencia

Abstract

En este trabajo muestra la metodología empleada en la medición y caracterización de micro llaves MEMS para microondas, desarrollada en el laboratorio de caracterización de microdispositivos de la UNSAM.

General information

Exposure date: septiembre 2011
Issue date: 2011
Document language: Spanish
Event: II Congreso de Microelectrónica Aplicada (μEA 2011) (La Plata, 7 al 9 de septiembre de 2011)
Origin: Centro de Técnicas Analógico-Digitales
ISBN: 978-950-34-0749-3
Pages: 247-248
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-dc-subject: RF-MEMS ; VNA ; calibración Solt ; Probe station ; MicroLab
Subjects: Ingeniería

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Created: 2 de agosto de 2021
Available since: 2 de agosto de 2021
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  • http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/121959

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