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Reflectometría de rayos X con control ambiental: Una técnica versátil para estudiar la estructura de películas delgadas porosas

Pertenece al libro: Libro de Resúmenes de la XIX Reunión Anual de la Asociación Argentina de Cristalografía
2024
 
Tipo de documento: Objeto de conferencia

Resumen

En esta presentación se mostrará el desarrollo y la implementación de un sistema de control ambiental acoplado a un difractómetro de rayos X que permite medir las densidades electrónicas de películas con humedad controlada. Este arreglo experimental hace posible calcular la porosidad total y la porosidad accesible de películas de óxidos mesoporosos y de películas formadas por partículas. Se comentará el desarrollo realizado en el Laboratorio Nacional de Luz Sincrotrón (LNLS, Brasil) y su adaptación a un difractómetro convencional de laboratorio. Finalmente, se presentarán ejemplos de determinaciones de llenado de poros con otras sustancias como polímeros y nanopartículas metálicas.

Información general

Fecha de exposición: noviembre 2024
Fecha de publicación: 2024
Idioma del documento: Español
Evento: XIX Reunión Anual de la Asociación Argentina de Cristalografía (La Plata / Berisso, 6 al 8 de noviembre de 2024)
Institución de origen: Facultad de Ciencias Exactas
ISBN: 978-950-34-2455-1
Páginas: 20-20
Palabras claves: XRR ; Sol-gel ; películas ; óxidos ; porosidad
Materias: Ciencias Exactas

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Creado el: 14 de septiembre de 2026
Disponible en SEDICI desde: 14 de septiembre de 2026
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