Efecto del dopaje con Al en las propiedades estructurales, ópticas y eléctricas de películas delgadas de ZnO

Abstract

Las películas delgadas de óxido de zinc (ZnO) han sido objeto de amplia investigación debido a sus diversas aplicaciones en dispositivos electrónicos y optoelectrónicos, gracias a su notable transparencia, conductividad y estabilidad química [1,2]. Sin embargo, la mejora continua de sus propiedades eléctricas y estructurales sigue siendo un área de interés significativo en la investigación de materiales. En este estudio, investigamos el efecto del dopaje con aluminio (Al) en películas delgadas de ZnO fabricadas mediante la técnica de spray pirólisis. El dopaje con Al se ha reconocido como una técnica eficaz para modificar las propiedades eléctricas y ópticas de los materiales semiconductores, lo que puede resultar en una mejora significativa de su rendimiento en diversos dispositivos [3,4].