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dc.date.accessioned 2023-05-18T16:37:12Z
dc.date.available 2023-05-18T16:37:12Z
dc.date.issued 2010
dc.identifier.uri http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/153213
dc.description.abstract En este trabajo se presentan distintos métodos para detección visual de fallas en productos mediante ensayo no destructivo. El primer enfoque se basa generar una imagen tomográfica a partir de pocas proyecciones del objeto, seguido por un proceso de segmentación de esta imagen para distinguir imperfecciones en el interior de la misma. El segundo enfoque realiza la inspección basada directamente en las proyecciones del objeto. Para compensar la falta de información cuando se cuenta con pocas proyecciones, en ambos métodos se incorpora conocimiento a priori acerca de la textura del producto, formas y tamaños habituales de fallas, etc., tanto para mejorar la calidad de la calidad de la imagen reconstruida, como también para acelerar el proceso de inspección. Los resultados obtenidos muestran que es factible realizar inspección de objetos metálicos y con alto grado de detalle, contribuyendo a la automatización de procesos de control de calidad en la industria. es
dc.format.extent 1894-1900 es
dc.language es es
dc.subject inspección de objetos es
dc.subject ensayos no destructivos es
dc.subject reconstrucción tomográfica es
dc.subject visualización y segmentación de imágenes 3D es
dc.title Herramienta para control de calidad en industria mediante introspección topográfica es
dc.type Objeto de conferencia es
sedici.identifier.uri http://39jaiio.sadio.org.ar/sites/default/files/39jaiio-jii-08.pdf es
sedici.identifier.issn 1850-2849 es
sedici.creator.person Barbuzza, Rosana es
sedici.creator.person Fresno, Mariana del es
sedici.creator.person Vénere, Marcelo es
sedici.creator.person Clausse, Alejandro es
sedici.subject.materias Ciencias Informáticas es
sedici.description.fulltext true es
mods.originInfo.place Sociedad Argentina de Informática e Investigación Operativa es
sedici.subtype Objeto de conferencia es
sedici.rights.license Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International (CC BY-NC-SA 4.0)
sedici.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
sedici.date.exposure 2010
sedici.relation.event 7º Jornada de Informática Industrial (JII 2010) - JAIIO 39 (UADE, 30 de agosto al 3 de septiembre de 2010) es
sedici.description.peerReview peer-review es


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