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dc.date.accessioned | 2021-07-13T12:55:13Z | |
dc.date.available | 2021-07-13T12:55:13Z | |
dc.date.issued | 2011 | |
dc.identifier.uri | http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/121537 | |
dc.description.abstract | Este trabajo presenta el procedimiento utilizado para la soldadura e inspección de un chip con encapsulado BGA sin plomo. Se mencionan los criterios considerados para definir el perfil de temperatura y el procedimiento para lograrlo utilizando un equipo de soldadura por infrarrojos. Luego se mencionan las inspecciones realizadas con microscopio, con rayos X, y las pruebas utilizando boundary scan. | es |
dc.format.extent | 95-100 | es |
dc.language | es | es |
dc.subject | BGA | es |
dc.subject | Prototipo | es |
dc.subject | Soldadura | es |
dc.title | Soldadura, inspección y verificación, en laboratorio, de un prototipo con chip BGA | es |
dc.type | Objeto de conferencia | es |
sedici.identifier.isbn | 978-950-34-0749-3 | es |
sedici.creator.person | Brengi, Diego | es |
sedici.creator.person | Tropea, Salvador | es |
sedici.creator.person | Parra Visentin, Matías | es |
sedici.creator.person | Huy, Christian | es |
sedici.description.note | Sección: Análisis para el Diseño de Hardware | es |
sedici.subject.materias | Ingeniería | es |
sedici.description.fulltext | true | es |
mods.originInfo.place | Centro de Técnicas Analógico-Digitales | es |
sedici.subtype | Objeto de conferencia | es |
sedici.rights.license | Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International (CC BY-NC-SA 4.0) | |
sedici.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ | |
sedici.date.exposure | 2011-09 | |
sedici.relation.event | II Congreso de Microelectrónica Aplicada (μEA 2011) (La Plata, 7 al 9 de septiembre de 2011) | es |
sedici.description.peerReview | peer-review | es |
sedici.relation.bookTitle | Libro de Memorias: II Congreso de Microelectrónica Aplicada 2011 | es |