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dc.date.accessioned 2021-08-02T13:25:16Z
dc.date.available 2021-08-02T13:25:16Z
dc.date.issued 2011
dc.identifier.uri http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/121933
dc.description.abstract Para la medición de la permitividad de distintos materiales, se simplificó el método del corto circuito,al considerar sin pérdidas los distintos materiales analizados, y resolviendo la ecuación resultante de la aplicación del método por medio de un programa de cálculo numérico desarrollado en lenguaje Fortran, evitando la resolución de ecuaciones complejas. Para tal fin se utilizó un banco de microondas Decca Radar en el rango de frecuencias de 2,6 a 4Ghz. es
dc.format.extent 164-167 es
dc.language es es
dc.subject Permitividad dieléctrica es
dc.subject Materiales es
dc.subject Medición es
dc.title Simplificacion del método del corto circuito para la medición de la permitividad dieléctrica es
dc.type Objeto de conferencia es
sedici.identifier.isbn 978-950-34-0749-3 es
sedici.creator.person Lipuma, Daniel es
sedici.creator.person Gastaldi, Raul es
sedici.creator.person Medina, Sergio es
sedici.creator.person Busnardo, Marcela es
sedici.subject.materias Ingeniería es
sedici.description.fulltext true es
mods.originInfo.place Centro de Técnicas Analógico-Digitales es
sedici.subtype Objeto de conferencia es
sedici.rights.license Creative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International (CC BY-NC-SA 4.0)
sedici.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
sedici.date.exposure 2011-09
sedici.relation.event II Congreso de Microelectrónica Aplicada (μEA 2011) (La Plata, 7 al 9 de septiembre de 2011) es
sedici.description.peerReview peer-review es
sedici.relation.bookTitle Libro de Memorias: II Congreso de Microelectrónica Aplicada 2011 es


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