Este trabajo describe una línea de I/D y los resultados esperados de la misma. El objetivo principal es estudiar, desarrollar y evaluar sistemas de reconocimiento automático de patrones en modo supervisado y no supervisado. En modo supervisado el objetivo principal es optimizar la generalización del clasificador. En particular son estudiados problemas caracterizados por medio de series temporales y clasificadores basados en máquinas de soporte vectorial (SVM). Los principales temas abordados son la selección de características, las técnicas de agrupamiento, el análisis de métricas y los métodos de optimización en SVM.