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dc.date.accessioned 2015-03-05T16:57:43Z
dc.date.available 2015-03-05T16:57:43Z
dc.date.issued 2002-04
dc.identifier.uri http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/44356
dc.description.abstract We describe the characteristics of a double-exposure specklegram obtained through a double-aperture system, by introduction of a wedge in front of one aperture in one exposure. It is assumed that a uniform dis placement of the difiuser is produced between exposures. The average intensity distribution and visibility of the interferometric fringes in the Fourier plane are analyzed. An alternative interferometric technique for phase object detection is proposed. en
dc.format.extent 497-499 es
dc.language en es
dc.subject óptica es
dc.subject interferometría Speckle es
dc.subject medición de fase es
dc.title Phase-object analysis with a speckle interferometer en
dc.type Articulo es
sedici.identifier.other https://doi.org/10.1364/OL.27.000506
sedici.identifier.issn 1539-4794 es
sedici.creator.person Ángel, Luciano es
sedici.creator.person Tebaldi, Myrian Cristina es
sedici.creator.person Trivi, Marcelo Ricardo es
sedici.creator.person Bolognini, Néstor Alberto es
sedici.subject.materias Ingeniería es
sedici.subject.materias Física es
sedici.description.fulltext true es
mods.originInfo.place Facultad de Ingeniería es
sedici.subtype Articulo es
sedici.rights.license Creative Commons Attribution 4.0 International (CC BY 4.0)
sedici.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
sedici.description.peerReview peer-review es
sedici.relation.journalTitle Optics Letters es
sedici.relation.journalVolumeAndIssue vol. 27, no. 7 es


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