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Phase-object analysis with a speckle interferometer

Tipo de documento: Articulo

Resumen

We describe the characteristics of a double-exposure specklegram obtained through a double-aperture system, by introduction of a wedge in front of one aperture in one exposure. It is assumed that a uniform dis placement of the difiuser is produced between exposures. The average intensity distribution and visibility of the interferometric fringes in the Fourier plane are analyzed. An alternative interferometric technique for phase object detection is proposed.

Información general

Fecha de publicación: abril 2002
Idioma del documento: Inglés
Revista: Optics Letters; vol. 27, no. 7
Institución de origen: Facultad de Ingeniería
ISSN: 1539-4794
Páginas: 497-499

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Creado el: 5 de marzo de 2015
Disponible en SEDICI desde: 5 de marzo de 2015
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  • http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/44356
  • https://doi.org/10.1364/OL.27.000506

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