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Observación al MEB del microarenado en polieter éter cetona (PEEK)

Belongs to book: XIV Jornada Internacional de Ciencia y Tecnología de la Facultad de Odontología de la UNNE y XII Jornada de Becarios y Tesistas. Libro de resúmenes
Document type: Resumen

Abstract

Se utilizaron 14 probetas en el cual un fragmento semicircular de PEEK, fue tratado en superficie por diferentes agentes para ser observados a diferentes aumentos en el microscopio electrónico de barrido. A través de Laboratorio de Investigaciones de Metalurgia Física (LIMF) se pudo acceder a la utilización de un microscopio electrónico de barrido SEM FEI Quanta200 que con ayuda de un técnico especializado en la materia se procedió a la rotulación de los preparados y posterior observación individual determinando diferentes accidentes sobre el polieter ocasionados por los distintos métodos de preparación de superficie.

General information

Exposure date: 27 de septiembre de 2019
Issue date: 2019
Document language: Spanish
Event: XIV Jornadas Internacionales de Ciencia y Técnica y XII Jornadas de Becarios y Tesistas (Universidad Nacional del Nordeste, 27 de septiembre de 2019)
Origin: Facultad de Odontología
ISBN: 978-987-3619-47-2
Pages: 75-75
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-dc-subject: PEEK ; Microabrasión del Esmalte ; MEB
Subjects: Odontología

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Resumen
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Created: 4 de noviembre de 2019
Available since: 4 de noviembre de 2019
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  • http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/84872

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