En español
En este trabajo se analiza el incremento de la resistencia serie y la disminución de la resistencia paralelo de un módulo que estuvo expuesto por 12 años a la intemperie. Estas medidas son comparadas con las realizadas a un módulo de igual tecnología que no fue expuesto. La metodología utilizada para la medida de estas resistencias se basa en datos que normalmente son otorgados por el fabricante o que se miden en cualquier condición arbitraria sin necesidad que sean las estándares. Del análisis de los resultados se observa que el incremento de la resistencia serie es significativo mientras que el decrecimiento de la resistencia paralelo no lo es.
En inglés
The present paper studies the series-shunt resistance variations obtained in a photovoltaic device exposed to the outside environment for twelve years. The measures made with this device are compared with those of a same technology new device which was not exposed. The methodology employed for the resistance measurements uses data provided by the manufacturers or any other data obtained in arbitrary conditions, not necessarily the standard ones. From the result’s analysis it is concluded that the series resistance increment is more significant than the shunt resistance decrease.