Aplicación de la microtomografía de rayos X para la caracterización microestructural de un hormigón semiaislante

Abstract

La microtomografía de rayos X (MTX) surge como una herramienta poderosa para abordar la caracterización microestructural y textural de materiales en general y de hormigones refractarios en particular. En este trabajo se compararon los resultados obtenidos mediante MTX de un hormigón gunitado semi-aislante comercial en verde y sinterizado y algunas caracterizaciones tecnológicas típicas (Arquímedes, intrusión de mercurio, DRX, SEM, MOR). Piezas prismáticas (25x25x25 mm<SUP>3</SUP>) cortadas de un bloque gunitado (70x70x15 cm<SUP>3</SUP>) fueron evaluadas. Previamente se describió la metodología típica para la caracterización de estos materiales. En el presente estudio se vio de manifiesto la potencialidad de la técnica para el: diseño, desarrollo, control de instalación y deterioro de este tipo de materiales. La técnica permitió, de manera sencilla y rápida, caracterizar la proporción, distribución y morfología de las distintas fases: chamotes, granos de ladrillo molido, y fase la ligante. También se pudo cuantificar la porosidad y observar su distribución y morfología en el volumen estudiado.