En español
Se realizaron recubrimientos, sobre sustratos de acero inoxidable, de tres materiales refractarios: oxinitruro de titanio (TiNOx), carburo de titanio (TiC) y nitruro de silicio (Si3N4). El fin fue el de determinar cuál de ellos presenta mejores cualidades para una posible aplicación en absorbedores selectivos que operen a altas temperaturas. Para asegurar una posible escalabilidad futura del proceso, se empleó una técnica industrialmente muy reconocida por sus bajos costos asociados, como es la "Deposición Química en Fase Vapor Asistida por Plasma" ó PECVD ("Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition"). Los depósitos obtenidos fueron observados mediante microscopia electrónica para determinar sus microestructuras. Las propiedades ópticas y térmicas de las superficies se evaluaron mediante reflectometría visible e infrarroja respectivamente. Además, se compararon las propiedades de los distintos recubrimientos con las obtenidas de una muestra selectiva comercial. Como resultado se determinó que el Si3N4 se destaca por sobre los otros recubrimientos estudiados; su absorbancia solar promedio resultó del 96%, y su reflectancia promedio en el IR del 87%.
En inglés
Coverings of refractory materials: titanium oxinitride (TiNOx), titanium carbide (TiC) and silicon nitride (Si3N4) on stainless steel substrate were performed. The aim was to study the possibility of elaborating selective coverings adequated to operate at high temperatures. To assure the possible future scalability of the process, a technology industrially very well recognized by his low associate costs was used: Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (PECVD). The microstructures of the surfaces obtained were characterized with a Scanning Electron Microscope (SEM). The optical and thermal properties were evaluated by means of reflectometry. The properties of the different coverings obtained were compared with a selective commercial sample. The Si3N4 covering resulted the more convenient one: his average solar absorbance was 96 %, and his average infrared reflectance 87 %.