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Verificación de las Curvas de Paschen y la Ley de Peek en microionizadores por descarga luminiscente

Belongs to book: Libro de Memorias: II Congreso de Microelectrónica Aplicada 2011
Document type: Objeto de conferencia

Abstract

En este trabajo analizamos el sistema de ionización por descarga luminiscente para su utilización como fuente de iones en un equipo de identificación de compuestos químicos tipo IMS. Se realizaron modelos de descarga corona implementados con tecnología MEMS (Sistemas Micro-electro Mecánicos). Se propone que en la escala micrométrica es posible mejorar rendimientos, confiabilidad y demandas operativas. Así se redujo la tensión de la fuente de alimentación a menos de 1kV.

General information

Exposure date: septiembre 2011
Issue date: 2011
Document language: Spanish
Event: II Congreso de Microelectrónica Aplicada (μEA 2011) (La Plata, 7 al 9 de septiembre de 2011)
Origin: Centro de Técnicas Analógico-Digitales
ISBN: 978-950-34-0749-3
Pages: 235-237
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-dc-subject: Generación de iones ; Movilidad ; Ionización ; Descarga glow
Subjects: Ingeniería

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Created: 2 de agosto de 2021
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