En este trabajo, se presenta un estudio comparativo, por medio de simulaciones numéricas, de los efectos de utilizar diferentes materiales inorgánicos como capa HTL, tales como Cu2O, CuSCN, NiO y CuI, y compararlos con el material más comúnmente utilizado como el spiro-OMeTAD, el cual es relativamente costoso. Todos ellos son aptos para funcionar como transportadores de huecos y bloqueadores de electrones.