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dc.date.accessioned 2019-09-03T18:13:37Z
dc.date.available 2019-09-03T18:13:37Z
dc.date.issued 1999
dc.identifier.uri http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/80396
dc.description.abstract Hidden grids from the photocopy process are used to produce moiré patterns. The method of production of moiré patterns is extended to hidden grids generated in the optoelectronical CCD observations. An application of this moiré is proposed to measure distances. en
dc.format.extent 188-192 es
dc.language en es
dc.subject photocopier hidden grids es
dc.subject CCD hidden grids es
dc.subject moire effect es
dc.subject distance measurement es
dc.title Hidden grids, moiré patterns and optoelectronically measurement of distances en
dc.type Objeto de conferencia es
sedici.identifier.other https://digital.cic.gba.gob.ar/handle/11746/1146 es
sedici.creator.person Garavaglia, Mario José es
sedici.creator.person Laquidara, Anibal Pablo es
sedici.subject.materias Física es
sedici.description.fulltext true es
mods.originInfo.place Facultad de Ciencias Exactas es
mods.originInfo.place Facultad de Ingeniería es
sedici.subtype Objeto de conferencia es
sedici.rights.license Creative Commons Attribution 4.0 International (CC BY 4.0)
sedici.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
sedici.date.exposure 1999
sedici.relation.event International Symposium on Laser Measurement and Inspection in Industry (Florianópolis Brasil 1999) es
sedici.description.peerReview peer-review es


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Creative Commons Attribution 4.0 International (CC BY 4.0) Excepto donde se diga explícitamente, este item se publica bajo la siguiente licencia Creative Commons Attribution 4.0 International (CC BY 4.0)