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Hidden grids, moiré patterns and optoelectronically measurement of distances

Tipo de documento: Objeto de conferencia

Resumen

Hidden grids from the photocopy process are used to produce moiré patterns. The method of production of moiré patterns is extended to hidden grids generated in the optoelectronical CCD observations. An application of this moiré is proposed to measure distances.

Información general

Fecha de exposición: 1999
Fecha de publicación: 1999
Idioma del documento: Inglés
Evento: International Symposium on Laser Measurement and Inspection in Industry (Florianópolis Brasil 1999)
Institución de origen: Facultad de Ciencias Exactas; Facultad de Ingeniería
Otros Identificadores: https://digital.cic.gba.gob.ar/handle/11746/1146
Páginas: 188-192

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Creado el: 3 de septiembre de 2019
Disponible en SEDICI desde: 3 de septiembre de 2019
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  • http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/80396

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